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目的
規(guī)范外觀檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，統(tǒng)一判斷依據(jù)，避免誤判。
適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于成品QC、QA、IQC對(duì)機(jī)殼部品或成品外觀及性能進(jìn)行判別
一、外觀
1. 外觀檢驗(yàn)條件
a. 視力：1.0以上
b. 照明：200-300LX
c. 目測(cè)距離：0.3-0.5m
① 目測(cè)或用0.02-0.05mm精度的游標(biāo)卡尺、專用規(guī)、量具等進(jìn)行測(cè)量。
② 觀檢驗(yàn)要求與所含內(nèi)容：
a) 機(jī)殼顏色、絲印、標(biāo)牌、高低斷差、縫隙、各類指示燈等表面缺陷
b) 控制機(jī)構(gòu)
c) 插座類
d) 支撐架類
2.1、機(jī)殼、支架應(yīng)整潔，無(wú)明顯機(jī)械損傷、凃覆層剝落、銹蝕現(xiàn)象；
2.2、前后左右的標(biāo)志和文字字跡應(yīng)絲印清晰、正確
2.3、各緊固部位應(yīng)無(wú)松動(dòng)，螺絲裝足到位。
2.4、單機(jī)外觀缺陷不允許超過(guò)下表數(shù)值：(MM)
注：1. 缺陷之間的距離應(yīng)≥20mm
2. 涂漆件色調(diào)應(yīng)≤1級(jí)
二、功能、性能檢測(cè)
1.0 檢驗(yàn)條件
1.1溫度:15～35℃
1.2相對(duì)濕度：45%～75%
1.3 氣壓：86～106Kpa
1.4 電壓：額定電壓×(1±2%)
額定頻率×(1±1%)
注：如果相對(duì)溫度、氣壓和電源對(duì)測(cè)量結(jié)果沒(méi)有影響，則可以在當(dāng)?shù)叵鄬?duì)溫度氣壓和電源條件下進(jìn)行測(cè)量。
1.5 光源、照度和掃描面積(圖形尺寸)
光源：正常自然光；
照度：符合攝像器件產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)靶面積照度的規(guī)定；
掃描面積：符合攝像器件產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)掃描面積的規(guī)定。
注：若測(cè)量結(jié)果與色溫?zé)o關(guān)時(shí),也可以用其他光源。
1.7 調(diào)節(jié)攝像機(jī)與測(cè)試圖距離,使其消隱的界限與測(cè)試圖規(guī)定的邊界一致。
1.8 攝像機(jī)的外界負(fù)載電阻為75±3.75Ω
2.0 測(cè)量方法：
2.1 將攝像機(jī)、電流表、電源、示波器、轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)、監(jiān)視器連接好(監(jiān)視器圖像分辯力不小于800線，亮度等級(jí)不小于10級(jí)，圖像重顯率100%)，觀察整機(jī)電流，應(yīng)小于規(guī)格書(shū)要求(見(jiàn)下圖)
2.2、將轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)切換于監(jiān)視器，調(diào)整攝像機(jī)鏡頭焦距與測(cè)試圖距離,使其消隱的界限與測(cè)試圖規(guī)定的邊界一致，觀察顯視器圖像，中心清晰且滿足規(guī)格書(shū)要求的分辨率，四周無(wú)明顯差異，幾何位置失真在允許范圍內(nèi)，感光IC缺陷不應(yīng)超過(guò)感光IC判定標(biāo)準(zhǔn)(見(jiàn)附頁(yè))。
2.3、將轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)切換至示波器，觀察攝像機(jī)輸出信號(hào)幅度，應(yīng)滿足規(guī)格書(shū)要求；
2.4、距攝像頭咪頭15cm時(shí)對(duì)講，監(jiān)視器喇叭應(yīng)發(fā)出聲音足夠大、清晰可辨、不停頓、不自激。（攝像頭與監(jiān)視器距離≥50cm時(shí)要求監(jiān)視器音量設(shè)定在1/2位置時(shí)檢測(cè)）
2.5、將攝像機(jī)置于暗室，連接好電源、監(jiān)視器，觀察最遠(yuǎn)距離物體，可視距離應(yīng)能滿足規(guī)格書(shū)要求。(圖像質(zhì)量以能分辨人體五官為準(zhǔn))
3.0 不合格的分類與判定
3.2 嚴(yán)重缺陷：是指產(chǎn)品功能或性能喪失,致使產(chǎn)品無(wú)法使用的缺陷.
3.3 重缺陷：能夠造成故障或降低產(chǎn)品的實(shí)用性能的缺陷。(B)
3.4 輕缺陷：只對(duì)產(chǎn)品的實(shí)用性能有輕微影響的缺陷。(C)
3.5 不合格判據(jù)（見(jiàn)下圖）
附：OQC抽樣計(jì)劃
附：感光IC標(biāo)準(zhǔn)
珠海石頭電子有限公司
感 光 IC 檢 測(cè) 指 導(dǎo) 書(shū)
ST/GZ.10.02.01 版本/狀態(tài)：A/0
1、檢測(cè)設(shè)備：
感光IC測(cè)試工裝及14″彩色MONITOR
2、區(qū)域劃分：
H
H/2
V/2 V
如圖所示的熒光面，陰影部分為A區(qū)，其他為B區(qū)。
三、檢驗(yàn)步驟：
1.0 外觀檢查：IC的感光面應(yīng)無(wú)破裂、針孔、污斑、異物，引腳無(wú)氧化變形等現(xiàn)象。
1.1 將IC放入測(cè)試工裝，通電后，觀察MONITOR，圖像應(yīng)清晰，無(wú)扭曲、黑白線、色彩（彩色感光IC）失真等現(xiàn)象。
1.2 整個(gè)熒光屏應(yīng)無(wú)黑點(diǎn)。
1.3 A區(qū)允許有不超過(guò)2個(gè)的傷點(diǎn)，B區(qū)允許有不超過(guò)6個(gè)的傷點(diǎn)，傷點(diǎn)的尺寸應(yīng)≤1mm。
1.4 關(guān)閉電源，取出IC，合格品流入下道工序；不合格品如經(jīng)加工后，經(jīng)檢驗(yàn)?zāi)軡M足規(guī)定要求，可以流入下道工序。否則，經(jīng)IQC確認(rèn)后退倉(cāng)。
注：傷點(diǎn)的意思是像素不能完全工作，其效果表現(xiàn)為：正常觀察圖像時(shí)不易發(fā)現(xiàn)，當(dāng)光暗較暗或蓋住鏡頭時(shí)出現(xiàn)的半透明的點(diǎn)。
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編制：許和平 |
審核: |
批準(zhǔn)： | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||